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  • KC系列凯视迈光学表面薄膜测厚仪
    KC系列凯视迈光学表面薄膜测厚仪

    产品型号

    KC系列

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2026-03-25

    浏览次数

    34

    产品描述

    凯视迈光学表面薄膜测厚仪,产品以广视野、高精度、快速度、多适配为核心特性,打破传统测量仪器单功能局限,一台设备替代三维形貌仪、超景深显微镜、轮廓测量仪多台设备,广泛应用于半导体、锂电、光伏、3C、航空航天、精密加工制造及新材料研发等领域,是国产光学精密测量仪器的产品。
  • KC凯视迈表面表征测量分析系统
    KC凯视迈表面表征测量分析系统

    产品型号

    KC

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2026-03-19

    浏览次数

    25

    产品描述

    凯视迈表面表征测量分析系统,集成形貌扫描、超景深观察、融合测量三大核心功能,可非接触、高精度获取样品表面微观形貌,生成高度彩色三维点云,实现数据图形化的显示、处理、测量与分析,广泛应用于新型材料研究、精密工程技术等基石研究领域。
  • KC凯视迈白光干涉三维形貌仪
    KC凯视迈白光干涉三维形貌仪

    产品型号

    KC

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2026-03-19

    浏览次数

    33

    产品描述

    凯视迈白光干涉三维形貌仪,是集形貌扫描、超景深观察、融合测量于一体的全新一代 3D 测量显微镜,广泛应用于半导体、锂电、光伏、3C、航空航天、精密加工制造及新材料研发等领域。
  • KC系列凯视迈亚微米级共聚焦扫描显微镜
    KC系列凯视迈亚微米级共聚焦扫描显微镜

    产品型号

    KC系列

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2026-03-19

    浏览次数

    41

    产品描述

    凯视迈亚微米级共聚焦扫描显微镜,在于其‌三合一精测能力‌——集‌激光光谱共聚焦扫描、真彩3D形貌重建与智能分析系统‌于一体,实现非接触、高精度、全自动化表面微观测量 。广泛应用于半导体、锂电、光伏、3C、航空航天、精密加工制造及新材料研发等领域。
  • KC凯视迈3D光学轮廓检测系统
    KC凯视迈3D光学轮廓检测系统

    产品型号

    KC

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2026-03-19

    浏览次数

    35

    产品描述

    凯视迈3D光学轮廓检测系统,集成形貌扫描、超景深观察、融合测量三大核心功能,可非接触、高精度获取样品表面微观形貌,生成高度彩色三维点云,实现数据图形化的显示、处理、测量与分析,广泛应用于新型材料研究、精密工程技术等基石研究领域。
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