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KC -
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2026-08-19 -
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产品描述
凯视迈光学表征扫描测量系统测量显微镜，设备采用非接触式光谱共焦技术，Z 轴分辨率可达 2nm，哑光、深色、透明、弱反光等难测样品均可稳定成像，无划伤工件风险。一机可测三维形貌、粗糙度、高度落差、轮廓尺寸，广泛用于半导体、3C 电子、薄膜、新材料精密质检，可提供全套精密测量检测解决方案。
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凯视迈光学表征扫描测量系统测量显微镜，设备采用非接触式光谱共焦技术，Z 轴分辨率可达 2nm，哑光、深色、透明、弱反光等难测样品均可稳定成像，无划伤工件风险。一机可测三维形貌、粗糙度、高度落差、轮廓尺寸，广泛用于半导体、3C 电子、薄膜、新材料精密质检，可提供全套精密测量检测解决方案。
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269产品描述
凯视迈材料台式扫描电子显微镜三维测量系统，产品以广视野、高精度、快速度、多适配为核心特性，打破传统测量仪器单功能局限，一台设备替代三维形貌仪、超景深显微镜、轮廓测量仪多台设备，广泛应用于半导体、锂电、光伏、3C、航空航天、精密加工制造及新材料研发等领域，是国产光学精密测量仪器的产品。
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2026-08-19浏览次数
238产品描述
凯视迈3D扫描测量系统3D显微镜，集成形貌扫描、超景深观察、融合测量三大核心功能，可非接触、高精度获取样品表面微观形貌，生成高度彩色三维点云，实现数据图形化的显示、处理、测量与分析，广泛应用于新型材料研究、精密工程技术等基石研究领域。
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2026-08-18浏览次数
412产品描述
凯视迈国产3d轮廓测量仪光学显微镜，KC系列以非接触式测量为核心技术路线，从研发之初就贴合国内用户的实际需求，依托自主研发的光学扫描系统与图像分析算法，可精准捕捉样品表面的微观细节，生成直观的彩色三维形貌模型，全程可视化完成数据处理与分析，不管是不同材质、不同尺寸还是不同应用场景的样品，都能稳定适配。
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2026-08-18浏览次数
232产品描述
凯视迈非接触式光学台阶仪共聚焦显微镜，KC系列集成了三维形貌扫描、超景深真彩观察、融合测量三种核心模式，既可以获取样品的三维高度信息完成定量分析，又能保留样品原本的色彩与纹理特征，还原样品最真实的表面状态，实现观测与测量同步完成。搭配多分区可控光源，可根据样品的特性灵活调整打光方式，轻松解决透明样品、强反光样品观测对比度低的问题，不管是什么类型的样品，都能呈现清晰的观测效果。
