简要描述：凯视迈投影测量仪，系统以“一机融五能、高精高效率“为核心设计理念，创新性融合超景深显微镜、影像测量仪、膜厚分析仪、三坐标测量仪、共聚焦显微镜五大核心功能于一体。它打破了传统精密检测设备功能单一的壁垒，无需更换设备，仅通过软件一键切换，即可在同一平台完成从宏观尺寸到纳米级形貌的全维度分析，真正实现“一台设备，一个平台，全项数据“，为电子、半导体、汽车、医疗等多行业提供一站式的精密检测解决方案。

凯视迈投影测量仪：

KM系列五合一精测显微镜，集超景深显微镜、影像测量仪、膜厚分析仪、三坐标测量仪及共聚焦显微镜的五大核心功能于一体，仅需单一设备即可完成全位精密检测。该系统融合了先进的精密光学组件与自主研发的图像算法，确保了针对大尺寸工件测量的高精度、高效率、以及较好的稳定性，保证了测量技术的新高度。

凯视迈投影测量仪优势：

（一）超景深显微与真彩3D成像

采用高分辨率光学系统与多层景深融合技术，即使对于高深宽比的复杂结构，如微孔、深槽，也能呈现全视野清晰、无畸变的真彩3D图像。圆满解决了传统显微镜“一半清晰一半模糊"的景深难题，可清晰观察PCB焊点、金属断口、纤维结构等微观形貌，为工件微观结构分析提供有力支持。

（二）高精度2D/3D尺寸测量

集成高精度光栅尺与自动对焦系统，在无需接触工件的情况下，可快速完成点、线、圆、角度等2D几何尺寸测量。同时，基于3D点云数据，能直接进行高度、体积、剖面轮廓等三维空间尺寸测量，测量精度可达微米级，有效替代传统影像测量仪与部分三坐标测量机的功能，满足各类工件的尺寸检测需求。

（三）共聚焦级表面粗糙度分析

通过共聚焦扫描技术，系统可获取样品表面的微观轮廓数据，实现线粗糙度（Ra）、面粗糙度（Sa）的精准测量。无论是光滑的镜面还是粗糙的磨砂表面，都能提供可追溯的量化数据，满足ISO25178等标准要求，为工件表面质量评估提供可靠依据。

（四）膜厚测量与智能分析

针对半导体晶圆、涂层、光学薄膜等应用场景，系统内置膜厚分析模块，支持透明与非透明膜层的非接触式厚度测量，最小可测5μm透明膜厚。结合优异的图像分析软件，还可自动统计粒度分布、孔隙率等参数，极大简化了材料表征流程，助力企业高效完成膜厚检测与分析工作。

（五）探针测量模式

该模式主要针对传统影像无法测量的深度、高度、侧壁、深孔、台阶、内槽等复杂3D结构尺寸设计，以接触式高精度测量弥补非接触测量的局限，实现“影像 + 探针"双模式互补，覆盖全场景测量需求。采用超低测量力探针设计，在保证测量精度的同时避免划伤、压痕工件，特别适合精密五金、医疗配件、钟表零件、汽车零部件等易损伤、高精度工件。支持双探针全自动电动切换，探针架可存放两款不同规格探针，系统通过自研切换机构实现自动换针，无需人工拆装，适配不同尺寸、不同结构的测量任务，操作更便捷。测量过程无需夹具固定，依托高精度运动平台与稳定探针系统，即可完成精准定位测量，减少装夹变形与定位误差。探针系统配合直线电机驱动平台，XY轴行程300×200mm，Z轴100mm，可灵活深入深孔、内腔、侧壁等复杂结构，完成高度差、深度、厚度、同轴度、位置度等传统影像难以检测的参数，弥补纯视觉测量的盲区。同时与设备其他模式无缝衔接，软件一键切换，无需重启、无需重新标定，提升整体检测效率，测量重复精度稳定±0.1μm，满足精密制造严苛要求。

超大测量范围·超高精度：

300×200×100mm，可测量范围，采用直线电机驱动，保证运动平稳性和运动精度

2500w像素相机

配备1个2500W黑白相机和1个2500W彩色相机，超高分辨率很大程度保证测量精度

一键闪测模式：

基于超大视野导航相机与自研定位算法，无需精确定位即可实现放下即测，极速完成批量检测。

1、大视野导航相机

无需摆放在特定位置，坐标台上任意位置均可测量

2、视觉定位算法

无需调整被测物角度，任意旋转角度均可准确识别

3、批量测量

最多可同时测量1000个被测物，5000个特征

应用方向：

电子、半导体、汽车、医疗、钟表、精密机械制造、精密五金、塑料与橡胶等行业的大批量、小型标准件的高精度测量。

厂家与售后服务:

地区:   全国多地有分支机构与服务商

服务：免费样机演示、上门安装培训、定制方案；快速售后响应，支持软件终身升级与硬件延保；

恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。