简要描述：凯视迈五合一光学测量仪，设备支持一键闪测、探针测量等多模式，工件无需精准定位即可“放下即测“，最多可同时测量1000个被测物、5000个特征，大幅提升批量检测效率。广泛适配电子、半导体、汽车、医疗等多行业，为企业节省设备采购与场地成本，保障检测数据一致性与准确性。

凯视迈五合一光学测量仪：

KM系列五合一精测显微镜，集超景深显微镜、影像测量仪、膜厚分析仪、三坐标测量仪、共聚焦显微镜五大功能于一体，实现"一机顶五台"的高效检测。搭载2500W双高清相机与双倍率双远心无畸变镜头，配合自研亚像素算法，图像测量精度达±0.7μm，重复定位精度±0.1μm，满足微米级甚至纳米级检测需求。

凯视迈五合一光学测量仪优势：

1、超高精度

高精度相机图像测量精度±0.7μm

2、超大测量范围

300×200×100mm测量范围

3、亚像素算法

采用亚像素技术，将单个像素细分为百分之一，精准识别边缘

4、高分辨率双远心镜头

特殊设计的双倍率双远心镜头，保证精度，无畸变

超大测量范围·超高精度：

300×200×100mm，可测量范围，采用直线电机驱动，保证运动平稳性和运动精度

2500w像素相机

配备1个2500W黑白相机和1个2500W彩色相机，超高分辨率很大程度保证测量精度

一键闪测模式：

基于超大视野导航相机与自研定位算法，无需精确定位即可实现放下即测，极速完成批量检测。

1、大视野导航相机

无需摆放在特定位置，坐标台上任意位置均可测量

2、视觉定位算法

无需调整被测物角度，任意旋转角度均可准确识别

3、批量测量

最多可同时测量1000个被测物，5000个特征

应用方向：

超景深成像‌：采用多层景深融合技术，呈现高深宽比结构的全视野清晰真彩3D图像，适用于PCB焊点、金属断口等微观形貌观察。

‌高精度2D/3D测量‌：支持点、线、圆、角度等二维尺寸及高度、体积、剖面轮廓等三维空间测量，精度达±0.7μm，替代传统影像仪与部分三坐标设备。

‌膜厚分析‌：非接触式测量透明/非透明膜层厚度，最小可测5μm，适用于半导体晶圆、涂层等材料表征。

‌共聚焦粗糙度分析‌：获取表面微观轮廓，精准测量线/面粗糙度（Ra/Sa）。

‌探针测量模式‌：配备超低测力双探针，自动切换，可测深孔、侧壁、台阶等复杂3D结构，弥补视觉盲区。

‌一键闪测‌：支持工件无序摆放、任意角度放置，无需夹具，单次最多测量1000个工件、5000个特征，大幅提升批量检测效率。

该设备广泛应用于电子、半导体、汽车、医疗等行业，助力企业实现高效、高精度、低成本的智能化检测升级。

厂家与售后服务:

地区:   全国多地有分支机构与服务商

服务：免费样机演示、上门安装培训、定制方案；快速售后响应，支持软件终身升级与硬件延保；

恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。