凯视迈青岛半导体会议圆满落幕｜共探微纳精密检测新技术

第二十届半导体与集成技术会议已于青岛圆满落下帷幕。本次大会由山东大学承办，汇聚国内半导体领域院士、高校科研团队与产业专家，围绕半导体材料、器件、集成工艺及先进检测技术开展深度研讨，搭建起产学研高效交流的高水平学术平台。

凯视迈携国产精密光学检测设备亮相本次会议展位，与众多学界专家、科研同仁面对面交流，围绕半导体科研、微纳结构测试、精密形貌检测、三维轮廓表征、粗糙度与台阶高精度测量等应用场景，分享国产化精密光学检测整体解决方案。

展会现场，光谱共焦测量系统、超景深显微系统、高精度轮廓仪等核心设备吸引众多参会嘉宾驻足咨询。设备可完成微纳尺度高精度形貌观测、非接触测量、三维重构与数据分析，适配高校科研课题、实验室检测、前沿半导体器件研发等场景。现场技术团队针对科研检测痛点，与参会人员深入探讨样品测试方案、设备选型与实验数据处理思路，收获大量有效交流与合作意向。

本次参会，是凯视迈深耕半导体微纳检测领域的一次重要交流。未来，凯视迈将持续打磨国产精密检测仪器，不断优化三维形貌、微观缺陷、尺寸测量等技术能力，携手高校与科研院所，助力半导体前沿材料与器件研发，持续为科研领域提供稳定可靠的精密检测方案。